1.产品介绍

高性能集成电路工程测试系统系列产品是国内领先的大规模集成电路测试设备厂商——悦芯科技基于公司在业内广泛使用的SOC测试设备T800和存储器测试设备TM8000基础上研制的，可满足各类数字芯片、模拟芯片、数模混合芯片、存储器芯片乃至SoC系统级芯片的功能测试和电性能参数测试，是一款广泛用于集成电路教学实训、设计验证、工程测试、小批量产的高性能国产集成电路自动测试设备（ATE），其优异的技术指标和强大的工业级应用模块达到国际水准，国内显著领先。系列采用一体化、可移植、产学两用的设计理念，其中E200-D（标准版）轻巧便携、性能优异，（进阶版）则在此基础上提供更多配置扩展空间。二者除了主机箱尺寸和结构差异，各核心测试模块及操作系统均保持一致。

2.产品特点

2.1数字信号测试模块

测试通道数（支持差分）：≥32CH（可扩展）

每通道最大测试速率：400Mbps（通道复用可达800Mbps）

满足Per-Pin PMU结构

支持ATPG存储器测试

2.2DC参数测试模块

测试通道数：≥8CH（可扩展）

单通道驱动/测量电压范围：±12V 或 0V～25V

支持相邻通道并联（并联电源供电能力：±4A）

2.3AC参数测试模块

任意波形发生器测试通道数：≥8CH（可扩展）

数字化仪测试通道数：≥8CH（可扩展）

2.4操作系统

支持工程验证和量产测试的工业自动化软件（AITest）

支持图形化测试编程，并开放底层语言编译环境（C/C++）

具备完善的测试程序调试工具（编辑、编译、测试状态实时显示、跟踪、断点等）

支持测试结果数据存储和处理，以及量产测试所需的STDF、WaferMap、GPIB协议等功能