MX700D系列SiC动态测试系统
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发布日期:2025-04-28
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详细介绍

1.产品介绍

MX700D 系列 SiC 动态测试系统由高精度可编程直流电源、治具单元、测量控制单元、驱动控制单元、 保护单元以及配套测试仪器等组成,采用公司自主开发的系统测试软件,为碳化硅器件动态特性参数提供一个 稳定、精准的测试平台,用于检验 SiC 动态的参数特性,包含开通特性、关断特性、二极管反向恢复特性、短 路特性和栅电荷。

2.产品特点

测试功能齐全,支持单脉冲测试、双脉冲测试和短路和栅电荷测试,兼容 SiC 和 IGBT 测试;

可靠性高,系统自带过流保护功能,在器件失效发生时快速关断电流回路;

杂散电感量低,在测试回路中利用叠层母排杂散电感低的特点,通过精巧的设计,实现测试回路低杂;

测量精度高,采样单元采用行业主流的一线品牌;

系统设计美观,各类接口功能齐全,操作方便,结构模块化设计方便运输及现场安装;

安全保护,系统采用软硬件结合方式,具备全面安全保护措施,如漏电流报警、绝缘阻 抗异常报警等, 在报警情况下自动停止测试;

兼容性高,定制化的适配器以满足客户不同封装,不同拓扑的测试需求;

具备强大的监控软件,方便系统标准化操作及实时监控。

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